আরএফ যোগাযোগের ডায়োডগুলির পারফরম্যান্স অবক্ষয় কীভাবে সনাক্ত করবেন?

一, আরএফ ডায়োডের পারফরম্যান্স অবক্ষয়ের মূল প্রক্রিয়া
1। যৌগিক অঞ্চলে ত্রুটিগুলি জমে
আরএফ ডায়োডগুলির দীর্ঘ - টার্ম অপারেশনের সময়, পুনঃসংযোগ অঞ্চলে নন রেডিয়েটিভ পুনঃসংযোগ কেন্দ্রগুলির সংখ্যা ধীরে ধীরে বৃদ্ধি পায়, যার ফলে অভ্যন্তরীণ কোয়ান্টাম দক্ষতা হ্রাস পায়। জিএএএস ভিত্তিক স্কটকি ডায়োডগুলি উদাহরণ হিসাবে গ্রহণ করে, তাদের অবক্ষয়ের হারটি ব্যান্ডগ্যাপ শক্তির সাথে নেতিবাচকভাবে সম্পর্কযুক্ত: যখন ব্যান্ডগ্যাপ শক্তি 1.4 ইভি থেকে 0.34 ইভি থেকে হ্রাস পায়, ত্রুটি প্রজন্মের জন্য অ্যাক্টিভেশন শক্তি উল্লেখযোগ্যভাবে হ্রাস পায়, পারফরম্যান্স অবক্ষয়কে ত্বরান্বিত করে। তদ্ব্যতীত, উচ্চ - এনার্জি ইলেক্ট্রন ইরেডিয়েশন পরীক্ষাগুলি দেখিয়েছে যে ডায়োডের সামনের পক্ষপাতদুষ্ট অবস্থায়, ইলেক্ট্রন হোল পুনঃসংযোগ দ্বারা প্রকাশিত শক্তি শূন্যতার বিস্তারকে ত্বরান্বিত করে, "ডার্ক লাইন" ত্রুটিগুলি গঠন করে এবং আলোকিত দক্ষতার হ্রাসের দিকে পরিচালিত করে।
2। তাপীয় চাপ দ্বারা সৃষ্ট উপাদান ক্ষতি
অবিচ্ছিন্ন তরঙ্গ বা পালস অপারেটিং মোডগুলিতে, ডায়োড জংশন তাপমাত্রায় ওঠানামা উপাদান তাপীয় ক্লান্তি সৃষ্টি করতে পারে। উদাহরণস্বরূপ, 30 সেকেন্ডে এবং 30 সেকেন্ডের একটি চক্র পরীক্ষায়, একটি আনপাস্টিউরাইজড ডায়োড 7.06 × 10 ^ 4 চক্রের পরে ব্যর্থ হয়েছিল, যার ফলে আউটপুট পাওয়ারে 6.4 ডিবি হ্রাস পেয়েছে, যখন উল্লেখযোগ্যভাবে অবনমিত আরএফ পারফরম্যান্স সহ একটি ডিভাইস 1300 ঘন্টা পরে ফাঁস কারেন্টে 7-গুণ বৃদ্ধি দেখিয়েছে। তাপীয় চাপও প্যাকেজিং উপকরণগুলির বার্ধক্যের কারণ হতে পারে, যেমন দুর্বল সিলিংয়ের কারণে ফুটো সমস্যা, আরও তীব্র পারফরম্যান্স অবক্ষয়কে আরও বাড়িয়ে তোলে।
3। পরজীবী পরামিতি পরিবর্তন
আরএফ ডায়োডগুলির পরজীবী ক্যাপাসিট্যান্স এবং আনয়ন উচ্চ ফ্রিকোয়েন্সিগুলিতে পারফরম্যান্সে উল্লেখযোগ্য প্রভাব ফেলে। যখন পরজীবী ক্যাপাসিট্যান্স বৃদ্ধি পায়, তখন সংকেত সংক্রমণ হ্রাস বৃদ্ধি পায়, যা সংশোধন দক্ষতা হ্রাস করে। উদাহরণস্বরূপ, যখন আরএফ ইনপুট শক্তি v_br ²/(4r_l) এ বৃদ্ধি পায়, তখন ডায়োডের পিক এসি ভোল্টেজ ব্রেকডাউন ভোল্টেজে পৌঁছে। যদি শক্তি বাড়তে থাকে তবে ডায়োডটি ভেঙে যাবে এবং সংশোধন দক্ষতা উল্লেখযোগ্যভাবে হ্রাস পাবে। তদতিরিক্ত, পরজীবী পরামিতিগুলির পরিবর্তনগুলি এমনকি সুরেলা বিকৃতিও ঘটাতে পারে, সংকেতের গুণমানকে প্রভাবিত করে।
2, আরএফ ডায়োডগুলির পারফরম্যান্স অবক্ষয়ের জন্য সনাক্তকরণ পদ্ধতি
1। উপস্থিতি এবং কাঠামোগত পরিদর্শন
মাইক্রোস্কোপিক পর্যবেক্ষণ: কেসিং, পিনের জারণ এবং সোল্ডার জয়েন্টগুলির গুণমানের ফাটলগুলির জন্য পরীক্ষা করতে 10-100x মাইক্রোস্কোপ ব্যবহার করুন। উদাহরণস্বরূপ, আরএফ সুইচ ডায়োডের একটি নির্দিষ্ট মডেলের ব্যর্থতা বিশ্লেষণে, মাইক্রোস্কোপিক পর্যবেক্ষণ পিনের পৃষ্ঠের উপর মাইক্রোক্র্যাকগুলি প্রকাশ করে, যা যোগাযোগের প্রতিরোধের বৃদ্ধি ঘটায়।
X - রে টেস্টিং: সোল্ডার ভয়েডস, চিপ অফসেটস ইত্যাদির মতো অভ্যন্তরীণ কাঠামোগত ত্রুটিগুলি সনাক্ত করা x -} রে ইনস্ট্রুমেন্ট ব্যবহার করে। একটি স্যাটেলাইট যোগাযোগ মডিউলটিতে ডায়োড ব্যর্থতার ক্ষেত্রে, এক্স - রশ্মি পরিদর্শন সোল্ডার স্তরটিতে একটি 0.5 মিমি ব্যাসের গহ্বর প্রকাশ করে, যা তাপ প্রতিরোধের বৃদ্ধি ঘটায়।
2। বৈদ্যুতিক পারফরম্যান্স টেস্টিং
I - V বৈশিষ্ট্যযুক্ত বক্ররেখা বিশ্লেষণ: ফরোয়ার্ড ভোল্টেজ (ভি_এফ), বিপরীত কারেন্ট (আইআর), এবং থ্রেশহোল্ড কারেন্ট ডেনসিটি (জেএইচটি) পরিমাপ করতে একটি সেমিকন্ডাক্টর প্যারামিটার টেস্টার (যেমন কিথলি 4200) ব্যবহার করুন। উদাহরণস্বরূপ, একটি নির্দিষ্ট লেজার ডায়োডের অবক্ষয় পরীক্ষায়, 1000a/সেমি থেকে 1200A/সেমি ² এ প্রান্তিক বর্তমান ঘনত্ব বাড়িয়ে আউটপুট পাওয়ারে 20% হ্রাস পেয়েছে।
উচ্চ ফ্রিকোয়েন্সি প্যারামিটার টেস্টিং: ভেক্টর নেটওয়ার্ক বিশ্লেষক ব্যবহার করে এস প্যারামিটারগুলি, শব্দের চিত্র এবং স্থায়ী তরঙ্গ অনুপাত পরিমাপ করুন। একটি রাডার রিসিভার ডায়োডের পরীক্ষায়, এটি পাওয়া গেছে যে এস 11 প্যারামিটারটি -20 ডিবি থেকে -15 ডিবি থেকে অবনতি ঘটেছে, যা ইনপুট ম্যাচিং পারফরম্যান্স হ্রাসকে নির্দেশ করে।
3। গতিশীল পারফরম্যান্স মূল্যায়ন
পাওয়ার ক্ষমতা পরীক্ষা: বিভিন্ন শক্তির আরএফ সংকেত প্রয়োগ করতে এবং ডায়োডের ব্রেকডাউন ভোল্টেজ এবং সংশোধন দক্ষতা পর্যবেক্ষণ করতে একটি উচ্চ -} ভোল্টেজ পরীক্ষক (যেমন টেকট্রোনিক্স 370 এ) ব্যবহার করুন। উদাহরণস্বরূপ, একটি পাওয়ার এমপ্লিফায়ার ডায়োডের পরীক্ষায়, এটি পাওয়া গেছে যে যখন ইনপুট শক্তি 10 ডিবিএম ছাড়িয়ে যায়, সংশোধন দক্ষতা 80% থেকে 60% এ হ্রাস পেয়েছে।
স্যুইচিং স্পিড টেস্ট: একটি অসিলোস্কোপের মাধ্যমে ডায়োডের উত্থান/পতনের সময়টি পরিমাপ করুন। একটি উচ্চ - স্পিড স্যুইচ সার্কিটে, ডায়োডের স্যুইচিং সময়টি 5ns থেকে 10ns এ প্রসারিত করা হয়, যার ফলে সংকেত বিকৃতি ঘটে।
4। দীর্ঘমেয়াদী নির্ভরযোগ্যতা যাচাইকরণ
ত্বরণযুক্ত জীবন পরীক্ষা: উচ্চ তাপমাত্রায় (150 ডিগ্রি) এবং উচ্চ আর্দ্রতা (85% আরএইচ) পরিবেশে অবিচ্ছিন্ন তরঙ্গ বা পালস অপারেশন পরীক্ষা পরিচালনা করুন। উদাহরণস্বরূপ, একটি যোগাযোগ বেস স্টেশন ডায়োডের ত্বরণ পরীক্ষায়, এটি পাওয়া গেছে যে 1000 ঘন্টা অপারেশনের পরে, বিপরীত ফুটো বর্তমান তিনগুণ বৃদ্ধি পেয়েছে এবং আউটপুট শক্তি 15%হ্রাস পেয়েছে।
তাপ সাইক্লিং পরীক্ষা: প্যাকেজিং উপাদানের নির্ভরযোগ্যতা মূল্যায়নের জন্য একটি কম্পন পরীক্ষার বেঞ্চে তাপমাত্রা সাইক্লিং -40 ডিগ্রি থেকে 125 ডিগ্রি থেকে অনুকরণ করুন। একটি নির্দিষ্ট মহাকাশ ডায়োডের পরীক্ষায়, এটি পাওয়া গেছে যে 500 চক্রের পরে, সোল্ডার স্তরে ফাটল উপস্থিত হয়েছিল, যার ফলে তাপ প্রতিরোধের বৃদ্ধি ঘটে।
3, শিল্প অনুশীলন এবং কেস বিশ্লেষণ
1। যোগাযোগ সরঞ্জাম প্রস্তুতকারীদের পরীক্ষা প্রক্রিয়া
হুয়াওয়ে উদাহরণ হিসাবে গ্রহণ করা, এর আরএফ ডায়োড সনাক্তকরণ প্রক্রিয়া অন্তর্ভুক্ত:
আগত পরিদর্শন: পরিচালনা i - ভি বৈশিষ্ট্য, উচ্চ - ফ্রিকোয়েন্সি পরামিতি এবং ডায়োডের প্রতিটি ব্যাচে প্যাকেজিং মানের পরীক্ষা, 99.5%এর চেয়ে বেশি বা সমান পাসের হার সহ।
প্রক্রিয়া পর্যবেক্ষণ: পিন সোল্ডারিংয়ের গুণমান নিশ্চিত করার জন্য এসএমটি পৃষ্ঠের মাউন্টিং, রিফ্লো সোল্ডারিং এবং অন্যান্য প্রক্রিয়াগুলির সময় সোল্ডারিং তাপমাত্রা এবং সময়ের রিয়েল টাইম পর্যবেক্ষণ।
সমাপ্ত পণ্য পরীক্ষা: 10 ^ -12 এর চেয়ে কম বা সমান ত্রুটির হার নিশ্চিত করতে যোগাযোগ মডিউলে সম্পূর্ণ তাপমাত্রার পরিসীমা (-40 ডিগ্রি থেকে 85 ডিগ্রি) আরএফ পারফরম্যান্স পরীক্ষা পরিচালনা করুন।
2। স্যাটেলাইট যোগাযোগ ব্যবস্থার জন্য রক্ষণাবেক্ষণ কৌশল
নিম্ন পৃথিবী কক্ষপথ স্যাটেলাইট যোগাযোগ ব্যবস্থায়, নিম্নলিখিত রক্ষণাবেক্ষণের কৌশলগুলি গৃহীত হয়:
কক্ষপথ পর্যবেক্ষণে: - বোর্ড পাওয়ার মিটারের মাধ্যমে ডায়োডের আউটপুট শক্তি এবং শব্দের সহগের রিয়েল টাইম মনিটরিং এবং অস্বাভাবিকতাগুলি সনাক্ত করা হলে ব্যাকআপ চ্যানেলগুলির স্বয়ংক্রিয় স্যুইচিং।
নিয়মিত ক্রমাঙ্কন: প্রান্তিক বর্তমান ঘনত্বের বিচ্যুতি 5%এর চেয়ে কম বা সমান হয় তা নিশ্চিত করার জন্য প্রতি 6 মাসে ডায়োডে আমি - v বৈশিষ্ট্যযুক্ত ক্রমাঙ্কন সম্পাদন করুন।
জীবন পূর্বাভাস: ত্বরণযুক্ত লাইফ টেস্ট ডেটার উপর ভিত্তি করে, অবশিষ্ট পরিষেবা জীবনের পূর্বাভাস দেওয়ার জন্য একটি ডায়োড লাইফ মডেল স্থাপন করুন।
3। রাডার সিস্টেমের ব্যর্থতা বিশ্লেষণ
পর্যায়ক্রমে অ্যারে রাডারের ব্যর্থতা বিশ্লেষণে এটি পাওয়া গেছে যে ডায়োড পারফরম্যান্সের অবক্ষয়ের মূল কারণটি হ'ল:
তাপীয় চাপ: রাডার অ্যান্টেনা ইউনিটের অপর্যাপ্ত তাপ অপচয় হ্রাস ডিজাইনের ফলে ডায়োড জংশন তাপমাত্রা 120 ডিগ্রি ছাড়িয়ে যায়, সংমিশ্রণ অঞ্চলে ত্রুটিগুলি সঞ্চারকে ত্বরান্বিত করে।
পরজীবী পরামিতি: ডায়োড এবং মাইক্রোস্ট্রিপ লাইনের মধ্যে পরজীবী ক্যাপাসিট্যান্স বৃদ্ধি পায়, যার ফলে সিগন্যাল ফেজ ত্রুটি বৃদ্ধি পায় এবং বিম নির্দেশক নির্ভুলতা প্রভাবিত করে।
উন্নতির ব্যবস্থা: তাপ অপচয় হ্রাস নকশা অনুকূল করুন, কম ডাইলেট্রিক ধ্রুবক স্তরগুলি ব্যবহার করুন এবং পরজীবী পরামিতিগুলির প্রভাব হ্রাস করুন।
4, প্রযুক্তিগত প্রবণতা এবং চ্যালেঞ্জ
1। উচ্চ ফ্রিকোয়েন্সি এবং সংহতকরণ
6 জি প্রযুক্তির বিকাশের সাথে সাথে, আরএফ ডায়োডগুলি টেরহার্টজ ফ্রিকোয়েন্সি ব্যান্ডে পরিচালনা করতে হবে, যা পরজীবী প্যারামিটার নিয়ন্ত্রণের জন্য উচ্চ প্রয়োজনীয়তা তৈরি করে। উদাহরণস্বরূপ, আইএনপি ভিত্তিক স্কটকি ডায়োডগুলির পরজীবী ক্যাপাসিট্যান্স 300GHz ফ্রিকোয়েন্সি ব্যান্ডের 0.1FF এর নীচে নিয়ন্ত্রণ করা দরকার।
2। বুদ্ধিমান সনাক্তকরণ প্রযুক্তি
কৃত্রিম বুদ্ধিমত্তার উপর ভিত্তি করে সনাক্তকরণ সিস্টেমটি প্রকৃত - সময় পর্যবেক্ষণ এবং ডায়োড পারফরম্যান্সের ভবিষ্যদ্বাণীমূলক রক্ষণাবেক্ষণ অর্জন করতে পারে। উদাহরণস্বরূপ, মেশিন লার্নিং অ্যালগরিদমের মাধ্যমে I - V বৈশিষ্ট্যযুক্ত বক্ররেখা বিশ্লেষণ করে, ডায়োড ব্যর্থতা তিন মাস আগেই পূর্বাভাস দেওয়া যেতে পারে।
3। নতুন উপকরণ এবং নতুন প্রক্রিয়া
গাএন এবং এসআইসির মতো প্রশস্ত ব্যান্ডগ্যাপ সেমিকন্ডাক্টর উপকরণগুলির প্রয়োগ ডায়োডগুলির শক্তি ক্ষমতা এবং নির্ভরযোগ্যতা উল্লেখযোগ্যভাবে উন্নত করতে পারে। উদাহরণস্বরূপ, গাএন ভিত্তিক স্কটকি ডায়োডগুলির ব্রেকডাউন ভোল্টেজ 1000V এ পৌঁছতে পারে, যা traditional তিহ্যবাহী এসআই ভিত্তিক ডায়োডগুলির চেয়ে পাঁচগুণ বেশি।
https://www.trrsememon.com/transistor/npn{2}} engeneral {3} upurposed{4 ... ট্রান্সিস্টোর {5} Bc817-40.html