যোগাযোগ ব্যবস্থায় ডায়োডের নির্ভরযোগ্যতা কীভাবে পরীক্ষা করবেন?

1, পরীক্ষার মান এবং স্পেসিফিকেশন সিস্টেম
যোগাযোগ শিল্পে ডায়োডগুলির নির্ভরযোগ্যতা পরীক্ষা অবশ্যই আন্তর্জাতিক অনুমোদনের মানগুলি মেনে চলতে হবে, যার মধ্যে টেলকর্ডিয়া জিআর - 468 "যোগাযোগ সরঞ্জামের জন্য অপটোলেক্ট্রোনিক ডিভাইসের নির্ভরযোগ্যতার জন্য সাধারণ প্রয়োজনীয়তা" মূল স্পেসিফিকেশন। এই স্ট্যান্ডার্ডটি যোগাযোগ সরঞ্জামগুলিতে ব্যবহৃত অপটোলেক্ট্রোনিক ডিভাইসগুলির জন্য (লেজার ডায়োডস, ফটোডিয়োডস ইত্যাদি সহ) একটি বিশদ নির্ভরযোগ্যতা যাচাইকরণ প্রক্রিয়া স্থাপন করে, তিনটি প্রধান মডিউলকে আচ্ছাদন করে: ডিভাইস পারফরম্যান্স টেস্টিং, স্ট্রেস টেস্টিং এবং ত্বরণযুক্ত বার্ধক্য পরীক্ষা। উদাহরণস্বরূপ, জিআর - 468 এর জন্য লেজার ডায়োডগুলি 1000 ঘন্টা উচ্চ - তাপমাত্রা এবং উচ্চ আর্দ্রতা স্টোরেজ পরীক্ষা (85 ডিগ্রি /85% আরএইচ) পাস করতে এবং কেন্দ্রের তরঙ্গদৈর্ঘ্য প্রবাহের চেয়ে কম বা আউটপুট পাওয়ার অ্যাটেনুয়েশন কম বা 5% এর সমান বা সমানভাবে পূরণ করতে পারে। তদতিরিক্ত, যদিও এইসি-কিউ 102 স্ট্যান্ডার্ড (অটোমোটিভ ইলেকট্রনিক্স কাউন্সিল দ্বারা প্রকাশিত) স্বয়ংচালিত অপটোলেক্ট্রোনিক ডিভাইসগুলির লক্ষ্য, এর উচ্চ-তাপমাত্রার বিপরীত পক্ষপাত (এইচটিআরবি), তাপমাত্রা সাইক্লিং এবং অন্যান্য পরীক্ষার পদ্ধতিগুলি চরম পরিবেশে ডায়োডগুলির নির্ভরযোগ্যতা মূল্যায়নের জন্য যোগাযোগ শিল্পে ব্যাপকভাবে ব্যবহৃত হয়।
2, মূল পরীক্ষার প্রকল্প এবং বাস্তবায়ন পদ্ধতি
(1) পরিবেশগত অভিযোজনযোগ্যতা পরীক্ষা
তাপমাত্রা সাইক্লিং পরীক্ষা
দ্রুত তাপমাত্রা পরিবর্তনের মাধ্যমে -40 ডিগ্রি থেকে 125 ডিগ্রি (যেমন 10 মিনিটের মধ্যে স্যুইচিং) এর মাধ্যমে চরম বহিরঙ্গন পরিবেশে যোগাযোগ সরঞ্জামগুলির তাপীয় চাপকে অনুকরণ করুন। ক্র্যাকড ডায়োড প্যাকেজিং এবং তারের বন্ধনের শক্তি হ্রাস করার মতো বিষয়গুলিতে ফোকাস সহ পরীক্ষাটি 1000 চক্রের জন্য স্থায়ী হওয়া দরকার। উদাহরণস্বরূপ, একটি নির্দিষ্ট যোগাযোগ বেস স্টেশনে ব্যবহৃত স্কটকি ডায়োডকে -40 ডিগ্রি থেকে 100 ডিগ্রির পরিসরের মধ্যে 500 টি চক্র সম্পূর্ণ করতে হবে, ফরোয়ার্ড ভোল্টেজ ড্রপ পরিবর্তনের হার 3%এর চেয়ে কম বা সমান।
স্যাঁতসেঁতে তাপ
168 ঘন্টা ধরে 85 ডিগ্রি /85% আরএইচ শর্ত ব্যবহার করে উচ্চ তাপমাত্রা এবং উচ্চ আর্দ্রতার শর্তের অধীনে ডায়োডের নিরোধক কর্মক্ষমতা মূল্যায়ন করুন। পরীক্ষার পরে, ফুটো কারেন্ট (আইআর) পরিমাপ করা দরকার, যার প্রয়োজন 1 μ এ এর ​​চেয়ে কম বা সমান (রেটেড ভোল্টেজে)। যদি ফুটো কারেন্ট স্ট্যান্ডার্ডের চেয়ে বেশি হয় তবে এটি প্যাকেজিং উপাদানের আর্দ্রতা শোষণের কারণে নিরোধক কর্মক্ষমতা হ্রাস নির্দেশ করতে পারে।
(২) বৈদ্যুতিক কর্মক্ষমতা পরীক্ষা
ইতিবাচক বৈশিষ্ট্য পরীক্ষা
ডিজিটাল মাল্টিমিটার বা ডায়োড পরীক্ষক ব্যবহার করে ফরোয়ার্ড ভোল্টেজ ড্রপ (ভিএফ) পরিমাপ করুন। যোগাযোগের ডায়োডগুলিতে সাধারণত ভিএফের চেয়ে কম বা 0.4V এর সমান বা সমান প্রয়োজন (যেমন এসএস 14 সিরিজ)। এদিকে, এটি উচ্চ - ফ্রিকোয়েন্সি অ্যাপ্লিকেশনগুলিতে সংকেত অখণ্ডতার প্রয়োজনীয়তা পূরণ করে তা নিশ্চিত করার জন্য একটি অসিলোস্কোপের মাধ্যমে ফরোয়ার্ড রিকভারি সময় (টিএফআর) পর্যবেক্ষণ করা প্রয়োজন।
বিপরীত বৈশিষ্ট্য পরীক্ষা
রেটেড ব্রেকডাউন ভোল্টেজ (ভিআর) এর 80% এ রিভার্স ভোল্টেজ প্রয়োগ করুন এবং বিপরীত ফুটো কারেন্ট (আইআর) পরিমাপ করুন। সংকেত হস্তক্ষেপ এড়াতে যোগাযোগের ডায়োডগুলি অবশ্যই 10 এনএ (যেমন BAS70 সিরিজ) এর চেয়ে কম বা সমান আইআর পূরণ করতে হবে। তদতিরিক্ত, ডায়োডের ক্ষণস্থায়ী সুরক্ষা ক্ষমতাটি সার্জ কারেন্ট টেস্টিংয়ের মাধ্যমে যাচাই করা দরকার (যেমন 10 μ s এর জন্য রেটেড কারেন্টের 10 গুণ প্রয়োগ করা)।
(3) ত্বরিত জীবন পরীক্ষা
উচ্চ তাপমাত্রা বিপরীত পক্ষপাত (এইচটিআরবি) পরীক্ষা
1000 ঘন্টার জন্য 125 ডিগ্রীতে বিপরীত ভোল্টেজ (যেমন রেটেড ভোল্টেজের 80%) প্রয়োগ করুন। ওয়েইবুল বিতরণ মডেলের মাধ্যমে ব্যর্থতার হারের পূর্বাভাস দেওয়ার জন্য ব্যর্থতার হারের জন্য 100fit এর চেয়ে কম বা সমান (মিলিয়ন ঘন্টা ব্যর্থতা) প্রয়োজন। উদাহরণস্বরূপ, একটি নির্দিষ্ট যোগাযোগের মডিউলটিতে টিভিএস ডায়োডকে এইচটিআরবি পরীক্ষাটি পাস করতে হবে এবং ± 8 কেভি (এইচবিএম মডেল) এর ইএসডি সুরক্ষা ক্ষমতা পূরণ করতে হবে।
তাপমাত্রা সাইক্লিং বার্ধক্যকে ত্বরান্বিত করে
তাপমাত্রা সাইক্লিংয়ের সাথে - 55 ডিগ্রি থেকে 150 ডিগ্রি এবং বৈদ্যুতিক চাপের সাথে মিলিত, সম্ভাব্য ব্যর্থতা মোডগুলির এক্সপোজারকে ত্বরান্বিত করুন। পরীক্ষার পরে, ব্যর্থতা বিশ্লেষণ (এফএ) প্রয়োজন, যেমন ইলেক্ট্রন মাইক্রোস্কোপি (এসইএম) ধাতবকরণ স্তর স্থানান্তর পর্যবেক্ষণ, তারের বন্ধন ভয়েডগুলির এক্স-রে সনাক্তকরণ ইত্যাদি স্ক্যান করা।
3, পরীক্ষার পদ্ধতি এবং সরঞ্জাম নির্বাচন
(1) স্বয়ংক্রিয় পরীক্ষার ব্যবস্থা
যোগাযোগ শিল্প সাধারণত ব্যাচ পরীক্ষা অর্জনের জন্য খাত (স্বয়ংক্রিয় পরীক্ষার সরঞ্জাম) ব্যবহার করে। উদাহরণস্বরূপ, কীসাইট বি 1500 এ সেমিকন্ডাক্টর প্যারামিটার বিশ্লেষক আইভি বক্ররেখা স্ক্যানিং এবং সি - ভি বৈশিষ্ট্যযুক্ত পরীক্ষার মতো ফাংশনগুলিকে সংহত করতে পারে। একটি একক ডিভাইস একই সাথে 200 ডায়োড নমুনাগুলি পরীক্ষা করতে পারে, পরীক্ষার দক্ষতা 5 বারেরও বেশি বাড়িয়ে তোলে।
(২) ব্যর্থতা বিশ্লেষণ কৌশল
শারীরিক ব্যর্থতা বিশ্লেষণ (পিএফএ)
খোলার, স্তরগুলি অপসারণ, স্টেইনিং এবং অনুপ্রবেশের মতো পদ্ধতির মাধ্যমে ব্যর্থতা পয়েন্টটি সনাক্ত করুন। উদাহরণস্বরূপ, একটি 5 জি বেস স্টেশন ডায়োড এইচটিআরবি পরীক্ষার পরে ফুটো কারেন্টের বৃদ্ধি পেয়েছিল এবং পিএফএ ধাতবকরণ স্তর এবং সিলিকন সাবস্ট্রেটের মধ্যে ইন্টারফেসে ভয়েডগুলির উপস্থিতি প্রকাশ করে, যা স্থানীয় ভাঙ্গনের দিকে পরিচালিত করে।
বৈদ্যুতিক ব্যর্থতা বিশ্লেষণ (ইএফএ)
হট স্পটগুলি সনাক্ত করতে নির্গমন মাইক্রোস্কোপি (এমএমআই) ব্যবহার করুন বা বিম প্ররোচিত প্রতিরোধের পরিবর্তন (ওবিআইআরসিএইচ) প্রযুক্তির মাধ্যমে বর্তমান ফুটো পাথগুলি সনাক্ত করুন। উদাহরণস্বরূপ, একটি উচ্চ - স্পিড অপটিক্যাল যোগাযোগ মডিউলটিতে পিন ডায়োডের সংবেদনশীলতা হ্রাস পেয়েছে এবং মাইক্রোক্র্যাকগুলি ইএফএর মাধ্যমে পিএন জংশনের প্রান্তে পাওয়া গেছে।
https://www.trrsememon.com/transistor/urface{2 ... mount{3}}}} {}} DioDes{5}}}} Baw56.html